仪器型号:JEM-F200
生产单位:日本电子(JEOL)
安装时间:2024.2
实验室位置:北区2号楼B110
负责人:郭金键
性能指标:
1.分辨率:STEM分辨率(200kV):0.16 nm;TEM分辨率(200 kV):线分辨率0.10 nm;
2.放大倍数:TEM模式放大倍数:50 - 2,000,000;STEM模式放大倍数:200 - 150,000,000;
3.样品台:五轴高精度全自动进样测角台,样品台最大倾角:X=±35°,Y=±30°;
4.能谱仪(EDS)能量分辨率129 eV(Mn-Kα,最优),总计数率800Kcps,有重峰剥离等功能。
主要附件:
配备两个大口径、分析灵敏度高的能谱探头,结合STEM可进行面扫描、线扫描分析。配备STEM、BSE及SE探头。SEI、BF、DF和HAADF图像采集的无缝式切换。
基础应用:
可实现高分辨图像的观察,同时还可得到纳米尺度的晶体结构、成分等信息,同时可以对样品进行能谱(STEM-EDS)扫描等,主要应用于化学、生命科学、物理学、材料科学、医疗、半导体、纳米技术等领域。
![](/__local/4/6D/2B/78FEF3B7DDF5DFFF61019F57BD0_C0CE6EA4_A11C.jpg)