仪器型号：JEM-F200

生产单位：日本电子（JEOL）

安装时间：2024.2

实验室位置：北区2号楼B110

负责人：郭金键

性能指标：

1.分辨率：STEM分辨率（200kV）：0.16 nm；TEM分辨率（200 kV）：线分辨率0.10 nm；

2.放大倍数：TEM模式放大倍数：50 - 2,000,000；STEM模式放大倍数：200 - 150,000,000；

3.样品台：五轴高精度全自动进样测角台，样品台最大倾角：X=±35°，Y=±30°；

4.能谱仪（EDS）能量分辨率129 eV（Mn-Kα,最优），总计数率800Kcps，有重峰剥离等功能。

主要附件：

配备两个大口径、分析灵敏度高的能谱探头，结合STEM可进行面扫描、线扫描分析。配备STEM、BSE及SE探头。SEI、BF、DF和HAADF图像采集的无缝式切换。

基础应用：

可实现高分辨图像的观察，同时还可得到纳米尺度的晶体结构、成分等信息，同时可以对样品进行能谱（STEM-EDS）扫描等，主要应用于化学、生命科学、物理学、材料科学、医疗、半导体、纳米技术等领域。