近日，分析测试中心高分辨场发射透射电子显微镜（JEOL JEM F200，配备能谱仪）安装调试工作已全部完成（地址：北区2号教学楼B110），目前已经进行正常预约测试。JEM-F200透射电镜加速电压为200 kV，STEM分辨率为0.16 nm，TEM分辨率为0.10 nm（线分辨率），TEM模式放大倍数为50—2000000，STEM模式放大倍数为200—150000000。

JEM-F200电镜可实现高分辨图像观测，可得到纳米尺度的晶体结构、成分等信息，同时可以对样品进行能谱扫描，主要应用于化学、生命科学、物理学、材料科学、医疗、半导体、纳米技术等领域。